DOI resolved by resea

REVIEW OF PARTICLE PHYSICS Particle Data Group

Olive, K. A.; Agashe, K.; Amsler, C.; Antonelli, M.; Arguin, J.-F.; Asner, D. M.; Baer, H.; Band, H. R.; Barnett, R. M.; Basaglia, T.; Bauer, C. W.; Beatty, J. J.; Belousov, V. I.; Beringer…

Keith A. Olive, K. Agashe, C.W.Bauer, A. Liddle, Z. Ligeti, C.-J. Lin, T. M. Liss, L. Littenberg
https://resea.org/10.1088/1674-1137/38/9/090001

Abstract

Olive, K. A.; Agashe, K.; Amsler, C.; Antonelli, M.; Arguin, J.-F.; Asner, D. M.; Baer, H.; Band, H. R.; Barnett, R. M.; Basaglia, T.; Bauer, C. W.; Beatty, J. J.; Belousov, V. I.; Beringer, J.; Bernardi, G.; Bethke, S.; Bichsel, H.; Biebel, O.; Blucher, E.; Blusk, S.; Brooijmans, G.; Buchmueller, O.; Burkert, V.; Bychkov, M. A.; Cahn, R. N.; Carena, M.; Ceccucci, A.; Cerri, A.; Chakraborty, D.; Chen, M.-C.; Chivukula, R. S.; Copic, K.; Cowan, G.; Dahl, O.; D'Ambrosio, G.; Damour, T.; de Florian, D.; de Gouvea, A.; DeGrand, T.; de Jong, P.; Dissertori, G.; Dobrescu, B. A.; Doser, M.; Drees, M.; Dreiner, H. K.; Edwards, D. A.; Eidelman, S.; Erler, J.; Ezhela, V. V.; Fetscher, W.; Fields, B. D.; Foster, B.; Freitas, A.; Gaisser, T. K.; Gallagher, H.; Garren, L.; Gerber, H.-J.; Gerbier, G.; Gershon, T.; Gherghetta, T.; Golwala, S.; Goodman, M.; Grab, C.; Gritsan, A. V.; Grojean, C.; Groom, D. E.; Grunewald, M.; Gurtu, A.; Gutsche, T.; Haber, H. E.; Hagiwara, K.; Hanhart, C.; Hashimoto, S.; Hayato, Y.; Hayes, K. G.; Heffner, M.; Heltsley, B.; Hernandez-Rey, J. J.; Hikasa, K.; Höcker, A.; Holder, J.; Holtkamp, A.; Huston, J.; Jackson, J. D.; Johnson, K. F.; Junk, T.; Kado, M.; Karlen, D.; Katz, U. F.; Klein, S. R.; Klempt, E.; Kowalewski, R. V.; Krauss, F.; Kreps, M.; Krusche, B.; Kuyanov, Yu. V.; Kwon, Y.; Lahav, O.; Laiho, J.; Langacker, P.; Liddle, A.; Ligeti, Z.; Lin, C.-J.; Liss, T. M.; Littenberg, L.; Lugovsky, K. S.; Lugovsky, S. B.; Maltoni, F.; Mannel, T.; Manohar, A. V.; Marciano, W. J.; Martin, A. D.; Masoni, A.; Matthews, J.; Milstead, D.; Molaro, P.; Mönig, K.; Moortgat, F.; Mortonson, M. J.; Murayama, H.; Nakamura, K.; Narain, M.; Nason, P.; Navas, S.; Neubert, M.; Nevski, P.; Nir, Y.; Pape, L.; Parsons, J.; Patrignani, C.; Peacock, J. A.; Pennington, M.; Petcov, S. T.; Piepke, A.; Pomarol, A.; Quadt, A.; Raby, S.; Rademacker, J.; Raffelt, G.; Ratcliff, B. N.; Richardson, P.; Ringwald, A.; Roesler, S.; Rolli, S.; Romaniouk, A.; Rosenberg, L. J.; Rosner, J. L.; Rybka, G.; Achrajda, C. T.; Sakai, Y.; Salam, G. P.; Sarkar, S.; Sauli, F.; Schneider, O.; Scholberg, K.; Scott, D.; Sharma, V.; Sharpe, S. R.; Silari, M.; Sjostrand, T.; Skands, P.; Smith, J. G.; Smoot, G. F.; Spanier, S.; Spieler, H.; Spiering, C.; Stah, A.; Stanev, T.; Stone, S. L.; Sumiyoshi, T.; Sphers, M. J.; Takahashi, F.; Tanabashi, M.; Terning, J.; Tiator, L.; Titov, M.; Tkachenko, N. P.; Tornqvist, N. A.; Tovey, D.; Valencia, G.; Venanzoni, G.; Vincter, M. G.; Vogel, P.; Vogt, A.; Wakely, S. P.; Walkowiak, W.; Walter, C. W.; Ward, D. R.; Weiglein, G.; Weinberg, D. H.; Weinberg, E. J.; White, M.; Wiencke, L. R.; Woh, C. C.; Wofenstein, L.; Womersley, J.; Woody, C. L.; Workman, R. L.; Yamamoto, A.; Yao, W.-M.; Zeller, G. P.; Zenin, O. V.; Zhang, J.; Zhu, R.-Y.; Zimmermann, F.; Zyla, P. A.; Harper, G.; Lugovsky, V. S.; Schaffner, P.; Particle Data Grp